Hlavní stránka > Výsledky hledání: keywords:"spätne odrazené elektróny"
Hledej:
Tipy pro vyhledávaní :: Rozšířené hledání
Hledej ve sbírkách:
Seřadit podle: Zobrazit výsledky: Výstupní formát:
Národní úložiště šedé literatury Nalezeno 2 záznamů.  Hledání trvalo 0.00 vteřin. 
Vliv pracovních podmínek v rastrovacím elektronovém mikroskopu Vega 3 XMU na signál detekovaný BSE detektorem
 Tkáčová, Tereza ; Chladil, Ladislav (oponent) ; Čudek, Pavel (vedoucí práce)
Táto práca je zameraná na zisťovanie vplyvu rôznych pracovných podmienok v rastrovacom elektrónovom mikroskope na signál detekovaný detektorom spätne odrazených elektrónov. V teoretickej časti je všeobecný popis rastrovacieho elektrónového mikroskopu, problematiky spätne odrazených elektrónov a taktiež popis metód vyhodnocovania pomeru signál - šum. Praktická časť je zameraná na priame pozorovanie vhodných vzorkov v rastrovacom elektrónovom mikroskope.
Úplný záznam
Vliv pracovních podmínek v rastrovacím elektronovém mikroskopu Vega 3 XMU na signál detekovaný BSE detektorem
 Tkáčová, Tereza ; Chladil, Ladislav (oponent) ; Čudek, Pavel (vedoucí práce)
Táto práca je zameraná na zisťovanie vplyvu rôznych pracovných podmienok v rastrovacom elektrónovom mikroskope na signál detekovaný detektorom spätne odrazených elektrónov. V teoretickej časti je všeobecný popis rastrovacieho elektrónového mikroskopu, problematiky spätne odrazených elektrónov a taktiež popis metód vyhodnocovania pomeru signál - šum. Praktická časť je zameraná na priame pozorovanie vhodných vzorkov v rastrovacom elektrónovom mikroskope.
Úplný záznam

Chcete být upozorněni, pokud se objeví nové záznamy odpovídající tomuto dotazu?
Přihlásit se k odběru RSS.
Digitální repozitář :: Hledej :: Nový záznam :: Personalizace :: Nápověda
Powered by Invenio v1.1.2
Spravuje admin.invenio@techlib.cz
Tato stránka je dostupná také v následujících jazycích:
Česky  English